wafer晶圆几何形貌测量系统:厚度(THK)翘曲度(Warp)弯曲度(Bow)等数据测量
2025-05-23 晶圆是半导体制造的核心基材,所有集成电路(IC)均构建于晶圆之上,其质量直接决定芯片性能、功耗和可靠性,是摩尔定律持续推进的物质基础。其中晶圆的厚度(THK)、翘曲度(Warp)和弯曲度(Bow)是直接影响工艺稳定性和芯片良率的关键参数:1、厚度(THK)是工艺兼容性的基础,需通过精密切割与研磨实现全局均匀性。2、翘曲度(Warp)反映晶圆整体应力分布,直接影响光刻和工艺稳定性,需通过退火优化和应力平衡技术控制。3、弯曲度(Bow)源于材料与工艺的对称性缺陷,对多层堆叠和封装...扫描电镜:打开微观世界的“超维相机“,科学家如何用它破解纳米谜题?
2025-05-23 当你用手机拍摄一朵花的微距照片时,放大100倍已足够惊艳。但如果告诉你,科学家手中的"相机"能将物体放大百万倍,连病毒表面的蛋白突触都清晰可见,你是否会好奇这背后的黑科技?这把打开微观宇宙的钥匙,正是扫描电子显微镜(SEM)。SEM的"超能力"从何而来?传统显微镜受限于可见光波长,放大极限止步于200纳米。而扫描电镜利用高能电子束作为"探针",通过电磁透镜操控电子轨迹,突破衍射极限,分辨率可达1纳米以下。CEM3000扫描电镜桌面化设计让实验室“去中心化”。其70000倍成像...精度不够?PLR3000光纤激光尺:0.2ppm误差解锁微米级制造
2025-05-23 当“精度焦虑”成为制造业的隐形门槛:在半导体光刻中,1nm偏差可能导致整片晶圆报废;在精密机床加工中,热变形让传统测量工具“失灵”……“高精度、高稳定、抗干扰”——工业超精密制造的三大痛点,如何破局?PLR3000系列光纤激光尺基于激光干涉测量原理,具有更加精确的栅距和更高的分辨率,同时其热源隔离设计,保证了更高的稳定性,同时具有安装快捷,易于准直等特点,在微电子、微机械、微光学等现代超精密加工制造、光刻技术等高科技领域广泛应用。核心优势1、高精度分辨率10nm(可拓展),线...