中图仪器高分辨率sem扫描电镜品牌具有空间自由+高效精准+定制适配+可靠保障的特点，能够解决检测场地受限、操作复杂拖慢进度、振动环境下数据不准测量痛点。标配有高性能二次电子探头和多象限背散射探头、并可选配能谱仪、低真空系统，能满足用户对多类型样品的观测需求，实现微观的形貌和元素分析等。

SuperView W1系列纳米级白光干涉三维形貌仪以0.1nm级分辨率、8μm/s扫描速度、300+种标准参数，一站式解决超精密测量精度不足、多材质适配难、批量检测效率低等测量难题。应用覆盖半导体、3C电子等多行业场景，数据驱动检测，赋能精密制造升级。

中图仪器CEM3000系列材料观察分析一体化扫描电镜4nm高清+40秒快检！以“空间自由+高效精准+定制适配+可靠保障”四大核心优势，直击B端检测核心需求，让微观观测更灵活、更高效、更可靠！

中图仪器SuperView W系列0.1nm形貌重复性白光干涉仪一键完成单/多区域自动测量、批量分析，编程测量功能可预设流程实现一键操作，单个精细器件测量用时短，大幅提升检测 throughput。

中图仪器CEM3000系列纳米形貌观测扫描电镜以“空间适配+性能强+易用高效“三大核心优势，成为你的检测增效利器。它操作系统简便，使用过程简单快捷。样品一键装入，自动导航和一键出图能力（自动聚焦+自动消像散+自动亮度对比度）帮助用户在短短几十秒内就可获取高清图像，大大提升了使用效率。

NS系列纳米台阶高度测量仪应用场景适应性强，其对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求，可测量沉积薄膜的台阶高度、抗蚀剂（软膜材料）的台阶高度等。