CEM3000系列自动化颗粒度统计扫描电镜具有高度的灵活性和丰富的功能，包括多种检测器、附件，可以满足广泛的研究和工业需求，包括半导体芯片失效分析。无论样品尺寸、重量、导电性如何，扫描电镜都可以让您轻松应对挑战，获得出色的SEM图像和SEM分析结果。

SuperViewW工业表面3D白光干涉检测仪可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。

传统的落地式SEM扫描电镜仪器可能需要一个专门的房间或设施，而CEM3000中图仪器台式电镜扫描仪器的框架尺寸还有所缩小，具有更高的易用性，要坚固耐用得多。

NS系列国产探针式台阶仪应用场景适应性强，其对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求，可测量沉积薄膜的台阶高度、抗蚀剂（软膜材料）的台阶高度等。

VT6000白光共焦显微镜用于对各种精密器件及材料表面进行微纳米级测量。可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。

扫描电镜SEM中图仪器具有高度的灵活性和丰富的功能，包括多种检测器、附件，可以满足广泛的研究和工业需求，包括半导体芯片失效分析。无论样品尺寸、重量、导电性如何，扫描电镜都可以让您轻松应对挑战，获得出色的SEM图像和SEM分析结果。