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光学3D表面轮廓仪测FA光纤端面粗糙度Sz参数

发布时间：2023-07-27点击次数：354

针对光通信行业中光波导器件的光纤端面粗糙度的检测需求，SuperView系列光学3D表面轮廓仪基于白光干涉原理和纳米扫描系统，具备0.1nm的纵向分辨率和全透明表面干涉条纹成像的能力，能够轻松实现针对FA光纤端面粗糙度Sz参数的高精度、高重复性的一键式测量。

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