0755-83318988
wafer晶圆几何形貌测量系统：厚度(THK)翘曲度(Warp)弯曲度(Bow)等数据测量
2025-05-23 晶圆是半导体制造的核心基材，所有集成电路（IC）均构建于晶圆之上，其质量直接决定芯片性能、功耗和可靠性，是摩尔定律持续推进的物质基础。其中晶圆的厚度（THK）、翘曲度（Warp）和弯曲度（Bow）是直接影响工艺稳定性和芯片良率的关键参数：1、厚度（THK）是工艺兼容性的基础，需通过精密切割与研磨实现全局均匀性。2、翘曲度（Warp）反映晶圆整体应力分布，直接影响光刻和工艺稳定性，需通过退火优化和应力平衡技术控制。3、弯曲度（Bow）源于材料与工艺的对称性缺陷，对多层堆叠和封装...扫描电镜：打开微观世界的“超维相机“，科学家如何用它破解纳米谜题？
2025-05-23 当你用手机拍摄一朵花的微距照片时，放大100倍已足够惊艳。但如果告诉你，科学家手中的"相机"能将物体放大百万倍，连病毒表面的蛋白突触都清晰可见，你是否会好奇这背后的黑科技？这把打开微观宇宙的钥匙，正是扫描电子显微镜（SEM）。SEM的"超能力"从何而来？传统显微镜受限于可见光波长，放大极限止步于200纳米。而扫描电镜利用高能电子束作为"探针"，通过电磁透镜操控电子轨迹，突破衍射极限，分辨率可达1纳米以下。CEM3000扫描电镜桌面化设计让实验室“去中心化”。其70000倍成像...精度不够？PLR3000光纤激光尺：0.2ppm误差解锁微米级制造
2025-05-23 当“精度焦虑”成为制造业的隐形门槛：在半导体光刻中，1nm偏差可能导致整片晶圆报废；在精密机床加工中，热变形让传统测量工具“失灵”……“高精度、高稳定、抗干扰”——工业超精密制造的三大痛点，如何破局？PLR3000系列光纤激光尺基于激光干涉测量原理，具有更加精确的栅距和更高的分辨率，同时其热源隔离设计，保证了更高的稳定性，同时具有安装快捷，易于准直等特点，在微电子、微机械、微光学等现代超精密加工制造、光刻技术等高科技领域广泛应用。核心优势1、高精度分辨率10nm（可拓展），线...激光跟踪仪为生命护航：X射线计算机断层扫描成像系统检测的应用
2025-05-21 行业背景概述：X射线计算机断层扫描成像系统，简称CT。近年来，全球CT市场展现出稳健的扩张态势。在亚太地区，伴随各国对医疗基础设施建设的持续投入，以及人口老龄化程度的加深，CT设备迎来了爆发式的市场需求。与此同时，多层螺旋CT、能谱CT等一系列前沿技术相继问世，不仅极大提升了CT设备的性能，也进一步拓展了应用场景，有力推动了市场规模的持续增长。需求描述：CT设备的安装与校准、质量控制与检测、运动部件检测。当前检测手段的不足或用户痛点：1、部件安装几何精度把控难题：现阶段，CT...
当前位置：
技术文章
三坐标测量仪
