SuperViewW1非接触式光学轮廓仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。

SJ5730国内粗糙度轮廓仪采用超高精度纳米衍射光学测量系统、超高直线度研磨级摩擦导轨、高性能直流伺服驱动系统、高性能计算机控制系统技术，具有12mm~24mm的大量程粗糙度测量范围，专业测试轴承内外侧。

SuperViewW1光学形貌轮廓仪是利用光学干涉原理研制开发的超精细表面轮廓测量仪器，主要用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量。具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时2分钟以内，确保了高款率检测。白光干涉仪的特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。

SJ5730接触式轮廓粗糙度仪具有12mm-24mm的粗糙度轮廓一体式测量范围，分辨率达到0.1nm，适合测量大曲面高精密零部件的轮廓参数测量，同时具备球面、弧面、非球面轮廓参数评价功能，能够满足各种高精密轮廓粗糙度加工行业的测量需求。

SJ5730精密粗糙度轮廓仪具有12mm-24mm的粗糙度轮廓一体式测量范围，分辨率达到0.1nm，适合测量大曲面高精密零部件的轮廓参数测量，同时具备球面、弧面、非球面轮廓参数评价功能。

SJ5780轮廓扫描仪可全量程大范围连续扫描，拥有长达数百毫米的持续爬坡能力，适合大范围陡坡表面测量，大工件无需翻转、倾斜调整，就可实现测量。仪器采用高精度导轨系统，导轨直线度高，导轨材料耐磨性好、保证系统稳定可靠工作；高精度、高稳定性、高重复性：分辨力0.001μm，满足被测件测量精度要求。

CHOTEST中图仪器SuperViewW1光学轮廓度测量仪是以白光干涉技术为原理的白光干涉仪，测量单个精密器件的过程用时2分钟以内，确保了高款率检测，具有测量精度高、操作便捷、功能全、测量参数涵盖面广的优点。

中图SJ5730粗糙度轮廓测量仪集成表面粗糙度和轮廓测量。具有12mm-24mm的粗糙度轮廓一体式测量范围，分辨率达到0.1nm，因此非常适合测量大曲面高精密零部件的轮廓参数测量，同时具备球面、弧面、非球面轮廓参数评价功能，能够满足各种高精密轮廓粗糙度加工行业的测量需求。