技术文章_第(36)页－深圳市中图仪器股份有限公司

全自动闪测仪具备了怎样的优势呢？
2023-05-25 全自动闪测仪是一种用于测量物体反光度的仪器，该仪器可以在极短的时间内完成对物体反射光强度的测量。采用了现代光学、电子技术和计算机技术，具有操作简便、测量精度高等特点，被广泛应用于各个领域。工作原理是利用一束标准光源照射物体表面，然后通过适当的光电传感器测量物体所反射的光强度，并将其转换为数字信号。接下来，计算机根据预先设定的参数进行数据处理和分析，最终输出物体的反射率值。测量速度快、误差小、可重复性好等，同时还能够存储大量数据，方便用户进行后续的数据分析和处理。此外，由于该仪...
光栅测长机使用方法通常包括以下步骤
2023-05-22 光栅测长机是一种高精度的测量设备，常用于工业生产中对物体长度、角度和位置等参数的精确测量。其原理是利用光栅的干涉作用，通过光电检测器将光信号转化为电信号，并经过计算得出被测物体的尺寸。具有高精度、高速度、非接触式测量等优点，广泛应用于机械加工、电子制造、半导体生产等领域。其测量精度通常可达到亚微米级别，可以满足大多数工业生产对尺寸精度的要求。主要构成部分包括光栅、光源、光电探测器、信号处理器等。其中，光栅是关键组件之一，其特殊的结构可以使被测物体的尺寸与光栅之间形成相位差，从...
白光干涉仪(光学3D表面轮廓仪)与台阶仪的区别
2023-05-22 表面形貌即为表面微观几何形态，不仅对接触零件的机械和物理特性起着决定作用，而且对一些非接触零件的光学和外部特性影响也很大。所以对表面形貌的精准测量能正确地识别出加工过程的变化和缺陷，对研究表面几何特性与使用性能的关系、控制和改进加工方法等都有着显著的意义。随着微电子技术、光学技术、计算机技术、传感技术、信号分析和处理技术等飞速发展，对表面形貌测量精度不断提高，从微米尺度进入了纳米甚至是亚纳米尺度。台阶仪与白光干涉仪，两者虽然都是表面微观轮廓测量利器，但还是有所不同。1、测量方...
白光干涉仪可以测曲面粗糙度吗？
2023-05-22 白光干涉仪又叫做非接触式光学3D表面轮廓仪，是以白光干涉扫描技术为基础研制而成用于样品表面微观形貌检测的精密仪器。它以白光干涉技术为原理，光源发出的光经过扩束准直后经分光棱镜后分成两束，一束经被测表面反射回来，另外一束光经参考镜反射，两束反射光最终汇聚并发生干涉，显微镜将被测表面的形貌特征转化为干涉条纹信号，通过测量干涉条纹的变化，能实现表面轮廓的三维重建并可进行轮廓尺寸分析。白光干涉仪的形貌测量，以表面形貌为主，即工件某一个表面上的微观形貌：1、微观轮廓尺寸测量：主要是台阶...
全自动闪测仪应用特色分析
2023-05-09 一、闪测仪是一种用于检测电缆故障的仪器。闪测仪可分为数字直读式和示波器式两种。用闪测仪测故障时不需事先将高阻接地烧穿，故本方法被广泛采用。一种新型的影像测量仪技术，与传统的二维影像测量仪不同的是不再需要光栅尺位移传感器作为精度标准，也不需要大焦距的镜头放大。产品图片，确保测量精度。二、闪测仪可分为数字直读式和示波器式两种。用闪测仪测故障时不需事先将高阻接地烧穿。利用测试仪器设备测试并寻找电缆故障点的方法。测定电缆故障点前先要确定故障的性质，选用最佳的初测法确定故障区段后，再用...
共聚焦显微镜在半导体行业，精准测量晶圆激光镭射槽的三维轮廓
2023-05-04 半导体大规模生产过程中需要在晶圆上沉积集成电路芯片，然后再分割成各个单元，最后再进行封装和焊接，因此对晶圆切割槽尺寸进行精准控制和测量，是生产工艺中至关重要的环节。共聚焦显微镜能应用于半导体制造及封装工艺，能够对具有复杂形状和陡峭的激光切割槽的表面特征进行非接触式扫描并重建三维形貌。共聚焦显微镜具有高光学分辨率，通过清晰的成像系统能够细致观察到晶圆表面的特征情况，例如：观察晶圆表面是否出现崩边、刮痕等缺陷。电动塔台可以自动切换不同的物镜倍率，软件自动捕捉特征边缘进行二维尺寸快...
光学轮廓仪在操作过程中，需要注意以下几点
2023-04-23 光学轮廓仪是一种测量物体表面形状的工具。它通过扫描物体表面，并记录接收到的反射光信号来生成一个三维模型。原理基于三角测量法。当激光束打在物体表面上时，它会被反射回来并通过镜头进入相机。根据反射光线的角度和入射点与相机之间的距离，可以计算出物体表面的坐标。通过不断移动激光束和相机，可以得到整个物体表面的三维坐标数据，从而生成一个完整的三维模型。光学轮廓仪具有许多优点。首先，它可以非常精确地测量物体表面的形状，可以达到亚毫米级别的精度。其次，它可以快速地测量大型物体的表面形状，相...
智能化驱使下，中图仪器光学3D成像测量技术的创新应用
2023-04-21 3D成像技术实现了二维到三维的升级。智能化制造下，具有3D成像功能的机器视觉系统可以更快，更准确地检查生产现场的组件。其中表面形貌的3D测量，包括了轮廓的测量以及表面粗糙度的测量，是微纳结构测量最为基础和重要的项目。目前常用的微结构表面形貌测量方法分为接触式和非接触式。运用非接触式测量技术的3D光学检测仪器，大多是基于光学方法（干涉显微法、自动聚焦法、激光干涉法、光学显微干涉法等），可对精密零部件的表面粗糙度、微小形貌轮廓及尺寸实现微纳级测量，在微纳米结构检测中有着重要意义。...

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