技术文章_第(33)页－深圳市中图仪器股份有限公司

助力科研|光学3D表面轮廓仪服务超精密抛光技术发展
2024-01-30 随着技术的不断进步，精密制造领域对材料表面的处理要求越来越高，超精密抛光技术作为当下表面处理的技术，对各种高精密产品的生产起到了至关重要的作用，已广泛应用于集成电路制造、医疗器械、航空航天、3C电子、汽车、精密模具等多个先进制造行业。SuperViewW1系列光学3D表面轮廓仪通过纳米传动与扫描技术、白光干涉与高精度3D重建技术实现0.1nm级表面粗糙度测量，成为超精密抛光技术研究领域的重要工具和帮手。光学3D表面轮廓仪助力科研课题研究，服务超精密抛光技术发展浙江工业大学赵军...
轮廓测长|中图仪器SJ57系列轮廓仪高精度测量粗糙度
2024-01-29 现代工业制造领域中，为什么测量粗糙度至关重要？在现代工业制造领域中，测量粗糙度是一项非常重要的工作。因为粗糙度能够影响到工件的功能性能和外观质量。当我们制造机器零件或工具时，需要确保表面的光洁度能够满足设计要求。过高或过低的粗糙度都会对产品的使用性能产生负面影响。在现代制造中，很多产品需要进行配合和组装。如果产品表面的粗糙度不均匀或超出了允许范围，就会导致配合不良或零件之间无法相互兼容。通过精确测量粗糙度，我们能够确保产品能够互换使用，提高生产效率和产品性能。针对汽车、飞机等...
闪测影像|中图仪器智能影像测量仪高精度快速批量检测
2024-01-29 在现代工业制造领域，快速批量测量零部件尺寸能确保产品质量、提升生产效率、优化生产过程、降低成本以及增强市场竞争力等。通过快速批量测量，迅速检测出不合格的零部件，避免生产过程中的浪费和延误，优化生产过程并提高生产效率。如在自动化生产线上，快速批量测量能够实时监测零部件尺寸，确保生产过程中的尺寸稳定性。这不仅可以提高产品质量，还可以降低人工干预和检查的成本。智能影像测量仪在现代化工业测量中的广泛应用如今现代化工业测量不再依赖于传统的人工测量方法。智能影像测量仪作为一种新兴测量技术...
显微测量|中图仪器显微测量仪0.1nm分辨率精准捕捉三维形貌
2024-01-23 显微测量的原理及其在先进制造业中的意义显微测量是利用显微镜实现对微小尺寸和形状的测量的一种技术手段。它能以高精确度测量微观尺寸，帮助制造业实现更高质量的产品。显微测量的原理主要基于光学和机械原理。在显微镜的帮助下，可以放大被测物体的面积和形状，使其更容易被观察和测量。这种技术的应用范围非常广泛，涵盖了诸多领域。在先进制造业中，不管是零件尺寸的测量还是表面质量的评估，显微测量都可以提供高精度的数据支持。这对于确保产品的质量和一致性至关重要；通过测量微小尺寸的变化和形状的改变，显...
轮廓测长|中图仪器SJ51系列测长机实现高精度二维长度测量
2024-01-23 高精度二维长度测量的重要性及测长机在精密制造业中的价值与应用领域高精度二维长度测量技术在现代精密制造业中，是保证产品质量和工艺精度的基础，可以确保产品符合规定的标准和要求，并帮助企业提高生产效率、降低生产成本。测长机作为一种高精度长度测量工具，在现代工业中发挥着重要的作用，具有广泛的应用领域。测长机产品特点1、高精度和重复性好测长机可以实现对工件尺寸和形态的精确测量。它可以通过光学、激光或机械等测量原理，结合精密的测量系统和数据分析软件，快速而准确地获得工件的长度、宽度、高度...
桥式结构三坐标测量机——超精准的测量解决方案
2024-01-22 与传统的车床和研磨机相比，桥式结构的三坐标测量机开敞性好，上下零件方便，运动速度快。在测量精度、测量效率和测量范围方面，更适用于高精度测量的领域。无论是精密零件的测量，还是复杂曲面的测量，桥式结构的三坐标测量机都能够准确地给出测量结果。其高精度的测量系统和稳定的结构设计，大大提升了测量的准确性和可靠性。在工业制造领域，桥式结构的三坐标测量机不仅可以用于零件的质量检测，还能够用于模具制作、机械加工等环节的精确控制。相比其他类型的测量设备，桥式结构的三坐标测量机可以实现多个测量点...
三坐标测量机测量特性详解，探究检验车间零部件的多重优势
2024-01-19 在现代制造工业中，精度是零部件质量的重要保障。而三坐标测量机以其高精度、高效率和广泛适用性，为车间里的零部件检验带来了革新性的提升。在传统的测量方法中，人工测量容易受到人为因素的影响，往往难以做到100精准度。而三坐标测量机通过高精度传感器和精确的测量算法，可以实现对零部件尺寸的准确掌控。无论是细小的孔洞还是复杂的曲面，都可以在该设备下得到精确的尺寸数据，从而保证了零部件的质量。对于车间的生产效率，传统的测量方法往往需要大量的人力、物力和时间投入，耗费了大量的资源。而三坐标测...
一文读懂半导体晶圆形貌厚度测量的意义与挑战
2024-01-16 半导体晶圆形貌厚度测量的意义与挑战半导体晶圆形貌厚度测量是半导体制造和研发过程中至关重要的一环。它不仅可以提供制造工艺的反馈和优化依据，还可以保证半导体器件的性能和质量。在这个领域里，测量的准确性和稳定性是关键。半导体器件通常是由多层薄膜组成，每一层的厚度都对器件的功能和性能有着直接的影响。只有准确测量每一层的厚度，才能保证半导体器件的性能符合设计要求。此外，形貌测量还可以提供制造工艺的反馈信息，帮助工程师优化制造工艺，提高生产效率和器件可靠性。然而，半导体晶圆形貌厚度测量的...

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