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轮廓粗糙度光学测量仪

简要描述:SuperViewW1轮廓粗糙度光学测量仪以白光干涉技术为原理,能够以优于纳米级的分辨率,测试各类表面并自动聚焦测量工件获取2D,3D表面粗糙度、轮廓等一百余项参数,广泛应用于光学,半导体,材料,精密机械等等领域。是一款非接触测量样品表面形貌的光学测量仪器。

  • 更新时间:2022-11-07
  • 产品型号:SuperViewW1
  • 厂商性质:生产厂家
  • 访  问  量:145

详细介绍

品牌自营品牌价格区间面议
产品种类非接触式轮廓仪/粗糙度仪产地类别国产
应用领域生物产业,能源,交通,航天,汽车

SuperViewW1轮廓粗糙度光学测量仪具有表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能,可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等参数。


产品功能

1)设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能;

2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能;

3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能;

4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能;

5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能;

6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。


SuperViewW1光学3D表面轮廓仪,白光干涉仪品牌.jpg


其中针对针对芯片封装测试流程的测量需求,SuperViewW1非接触式光学轮廓测量仪的X/Y方向标准行程为140*100mm,满足减薄后晶圆表面大范围多区域的粗糙度自动化检测、镭射槽深宽尺寸、镀膜台阶高等微纳米级别精度的测量。而SuperViewW1-Pro 型号增大了测量范围,可覆盖8英寸及以下晶圆,定制版真空吸附盘,稳定固定Wafer;气浮隔振+壳体分离式设计,隔离地面震动与噪声干扰。


SuperViewW1光学3D表面轮廓仪,白光干涉仪品牌.jpg


SuperViewW1轮廓粗糙度光学测量仪以白光干涉技术为原理,能够以优于纳米级的分辨率,测试各类表面并自动聚焦测量工件获取2D,3D表面粗糙度、轮廓等一百余项参数,广泛应用于光学,半导体,材料,精密机械等等领域。是一款非接触测量样品表面形貌的光学测量仪器。

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