详细介绍
品牌 | CHOTEST/中图仪器 | 价格区间 | 面议 |
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产地类别 | 国产 | 应用领域 | 综合 |
中图仪器SuperViewW1白光干涉显微镜也叫光学轮廓仪、光学3D表面轮廓仪、非接触式粗糙度轮廓仪等,仪器分辨率0.1μm,重复性0.1%,可为样品表面测量提供快速,便捷的非接触式3D表面形貌测量解决方案。应用领域广泛,操作简便,可自动聚焦测量工件获取2D,3D表面粗糙度、轮廓等一百余项参数。可以用于测试各类表面。比如透明的玻璃表面,加上增透膜,其反射率小于1%;也可以用于测试直至100反射率的各类高反表面。
1)设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能;
2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能;
3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能;
4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能;
5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能;
6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。
(1) 提供多种数据处理方式。
提供校平、镜像、旋转等操作调整图像位置;
提供空间滤波、标准滤波、阈值纠正、去除形状、频谱变换等滤波操作对数据进行修正;
提供提取区域、提取剖面、抽取轮廓等操作获取检测区域。
(2) 提供多种分析工具。
提供距离、台阶高度等要素测量;
提供点、线、圆弧、角度等特征测量,以及直线度、真圆度等形位公差评定,为用户展现强大的轮廓分析功能;
提供基于表面的纹理分析,方便地观察纹理方向与纹理均质性;
提供图形分析、岛屿分析、分形分析、顶点计数、孔的体积等多种有针对性的分析功能;
提供频谱分析功能,可获取幅度和相位信息、平均功率谱密度信息、自相关性等;
提供线粗糙度、面粗糙度的参数分析功能;
提供依据四大国内外标准(ISO/ASME/EUR/GBT)计算的2D,3D参数。
(3) 可视化的工作流模式,数据处理器和结果管理器具有可视工作流程树图,在每个节点既可以是数据处理选项也可以是分析结果。
(4) 多样化的视图观察角度,3D视图可以清晰地查看被测物的每一个特征,并可以在3D视图、2D投影图、等高线图之间任意切换。
(5) 内置多种分析方案,可对特定表面进行一键分析,自动生成一组分析结果,节约操作时间;并可自定义方案,将用户的分析项目组合起来,避免重复操作。
(6) 便捷的同步分析功能,可实时提取表面二维剖面,同步计算更新参数指标,实现对样品的操作所见即所得。
(7) 拥有多种报表形式,用户可根据需要导出分析结果到Word、Pdf等常用办公软件中。
超精密加工
型号 | W1 | |
光源 | 白光LED | |
影像系统 | 1024×1024 | |
干涉物镜 | 标配:10× 选配:2.5×、5×、20×、50×、100× | |
光学ZOOM | 标配:0.5× 选配:0.375×、0.75×、1× | |
标准视场 | 0.98×0.98㎜(10×物镜,光学ZOOM 0.5×) | |
XY位移平台 | 尺寸 | 320×200㎜ |
移动范围 | 140×100㎜ | |
负载 | 10kg | |
控制方式 | 电动 | |
Z轴聚焦 | 行程 | 100㎜ |
控制方式 | 电动 | |
形貌重复性 | 0.1nm | |
粗糙度RMS重复性 | 0.005nm | |
台阶测量 | 准确度:0.3%;重复性:0.08%(1σ) | |
可测样品反射率 | 0.05%~100% | |
主机尺寸 | 700×606×920㎜ |
SuperViewW1白光干涉显微镜基于白光干涉原理,不仅用于零件的检测,还是一种在生产中用于检测轧制产品表面缺陷的设备,能完成缺陷尺寸的在线检测。它特殊光源模式,可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精密器件表面的测量。广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中,测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面,从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。
对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。
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