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  • CP200沉积薄膜台阶高度测量仪
    CP200沉积薄膜台阶高度测量仪

    中图仪器CP系列沉积薄膜台阶高度测量仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器,其主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。其采用LVDC电容传感器,具有的亚埃级分辨率和超微测力等特点使得其在ITO导电薄膜厚度的测量上具有很强的优势。

    时间:2024-03-28型号:CP200访问量:34
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  • CP200高精度台阶高度测量仪
    CP200高精度台阶高度测量仪

    中图仪器CP系列高精度台阶高度测量仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器,其主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。它能够测量纳米到330μm甚至1000μm的台阶高度,可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料。

    时间:2024-03-22型号:CP200访问量:89
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  • CP200高精度薄膜厚度测量仪
    CP200高精度薄膜厚度测量仪

    线性可变差动电容传感器(LVDC),具有亚埃级分辨率,13um量程下可达0.01埃。高信噪比和低线性误差,使得产品能够扫描到几纳米至几百微米台阶的形貌特征。线性可变差动电容传感器(LVDC),具有亚埃级分辨率,13um量程下可达0.01埃。高信噪比和低线性误差,使得产品能够扫描到几纳米至几百微米台阶的形貌特征。它可以测量各种材料的膜层厚度,包括金属、陶瓷、塑料等。

    时间:2024-03-22型号:CP200访问量:98
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  • CP200探针式台阶仪/轮廓/形貌/粗糙度/表面2D测试
    CP200探针式台阶仪/轮廓/形貌/粗糙度/表面2D测试

    中图仪器CP系列探针式台阶仪/轮廓/形貌/粗糙度/表面2D测试是一种接触式表面形貌测量仪器,可以对微米和纳米结构进行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波纹和表面粗糙度等的测量。对测量工件的表面反光特性、材料种类、材料硬度都没有特别要求,样品适应面广,数据复现性高、测量稳定、便捷、高效,是微观表面测量中使用非常广泛的微纳样品测量手段。

    时间:2024-03-18型号:CP200访问量:91
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  • CP200国产台阶仪测量稳定高效
    CP200国产台阶仪测量稳定高效

    CP系列国产台阶仪测量稳定高效,仪器采用了线性可变差动电容传感器LVDC,具备超微力调节的能力和亚埃级的分辨率,同时,其集成了超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术,使得仪器具备超高的测量精度和测量重复性。

    时间:2024-03-12型号:CP200访问量:114
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  • CP200亚埃级垂直分辨力台阶仪
    CP200亚埃级垂直分辨力台阶仪

    中图仪器CP系列亚埃级垂直分辨力台阶仪是一种接触式表面形貌测量仪器,可以对微米和纳米结构进行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波纹和表面粗糙度等的测量。其采用LVDC电容传感器,具有的亚埃级分辨率和超微测力等特点使得其在ITO导电薄膜厚度的测量上具有很强的优势。

    时间:2024-03-06型号:CP200访问量:106
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  • CP200台阶仪高精度薄膜厚度与台阶高度测量
    CP200台阶仪高精度薄膜厚度与台阶高度测量

    台阶仪高精度薄膜厚度与台阶高度测量软件包含多个模块。500万像素高分辨率彩色摄像机,即时进行高精度定位测量。可以将探针的形貌图像传输到控制电脑上,使得测量更加直观。

    时间:2024-02-23型号:CP200访问量:154
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  • CP200国产台阶仪厂商
    CP200国产台阶仪厂商

    中图仪器国产台阶仪厂商CP系列台阶仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪,主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。能够测量纳米到330μm甚至1000μm的台阶高度,可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料。

    时间:2024-02-03型号:CP200访问量:225
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