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  • CP200国产高精度台阶仪品牌
    CP200国产高精度台阶仪品牌

    中图CP系列国产高精度台阶仪品牌数据复现性高、测量稳定、便捷、高效,能够广泛应用于半导体、太阳能光伏、光学加工、LED、MEMS器件、微纳材料制备等各行业领域内的工业企业与高校院所等科研单位,其对表面微观形貌参数的准确表征,对于相关材料的评定、性能的分析与加工工艺的改善具有重要意义,是微观表面测量中使用非常广泛的微纳样品测量手段。

    时间:2024-04-24型号:CP200访问量:56
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  • CP200表面轮廓仪系统台阶仪
    CP200表面轮廓仪系统台阶仪

    CP系列表面轮廓仪系统台阶仪可以对微米和纳米结构进行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波纹和表面粗糙度等的测量。其采用LVDC电容传感器,具有的亚埃级分辨率和超微测力等特点使得其在ITO导电薄膜厚度的测量上具有很强的优势。

    时间:2024-04-24型号:CP200访问量:105
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  • CP200台阶高度厚度仪
    CP200台阶高度厚度仪

    中图仪器CP系列台阶高度厚度仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器,也是一种常用的膜厚测量仪器。它利用光学干涉原理,通过测量膜层表面的台阶高度来计算出膜层的厚度,具有测量精度高、测量速度快、适用范围广等优点。它可以测量各种材料的膜层厚度,包括金属、陶瓷、塑料等。

    时间:2024-04-24型号:CP200访问量:91
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  • CP200薄膜厚度测量台阶仪
    CP200薄膜厚度测量台阶仪

    中图仪器CP系列薄膜厚度测量台阶仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器,其主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。它是一种常用的膜厚测量仪器,它是利用光学干涉原理,通过测量膜层表面的台阶高度来计算出膜层的厚度,具有测量精度高、测量速度快、适用范围广等优点。它可以测量各种材料的膜层厚度,包括金属、陶瓷、塑料等。

    时间:2024-04-24型号:CP200访问量:151
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  • CP200沉积薄膜台阶高度测量仪
    CP200沉积薄膜台阶高度测量仪

    中图仪器CP系列沉积薄膜台阶高度测量仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器,其主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。其采用LVDC电容传感器,具有的亚埃级分辨率和超微测力等特点使得其在ITO导电薄膜厚度的测量上具有很强的优势。

    时间:2024-04-24型号:CP200访问量:146
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  • CP200高精度台阶高度测量仪
    CP200高精度台阶高度测量仪

    中图仪器CP系列高精度台阶高度测量仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器,其主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。它能够测量纳米到330μm甚至1000μm的台阶高度,可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料。

    时间:2024-04-24型号:CP200访问量:154
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  • CP200高精度薄膜厚度测量仪
    CP200高精度薄膜厚度测量仪

    线性可变差动电容传感器(LVDC),具有亚埃级分辨率,13um量程下可达0.01埃。高信噪比和低线性误差,使得产品能够扫描到几纳米至几百微米台阶的形貌特征。线性可变差动电容传感器(LVDC),具有亚埃级分辨率,13um量程下可达0.01埃。高信噪比和低线性误差,使得产品能够扫描到几纳米至几百微米台阶的形貌特征。它可以测量各种材料的膜层厚度,包括金属、陶瓷、塑料等。

    时间:2024-04-24型号:CP200访问量:170
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  • CP200探针式台阶仪/轮廓/形貌/粗糙度/表面2D测试
    CP200探针式台阶仪/轮廓/形貌/粗糙度/表面2D测试

    中图仪器CP系列探针式台阶仪/轮廓/形貌/粗糙度/表面2D测试是一种接触式表面形貌测量仪器,可以对微米和纳米结构进行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波纹和表面粗糙度等的测量。对测量工件的表面反光特性、材料种类、材料硬度都没有特别要求,样品适应面广,数据复现性高、测量稳定、便捷、高效,是微观表面测量中使用非常广泛的微纳样品测量手段。

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