SuperViewW白光干涉微纳米三维形貌一键测量仪基于白光干涉原理，以3D非接触方式，测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸，单一扫描模式即可满足从超光滑到粗糙、镜面到全透明或黑色材质等所有类型样件表面的测量。

中图仪器chotest白光干涉仪用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量。它以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等，可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等参数。

SuperViewW白光干涉表面微观形貌检测系统通过干涉物镜产生干涉条纹，使基本的光学显微镜系统变为白光干涉轮廓仪。它能以3D非接触方式，测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸，可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。

SuperViewW白光干涉3D显微测量仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。其特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。

SuperViewW摩擦磨损形貌白光干涉测量仪是以白光干涉技术为原理，结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现对摩擦磨损区进行全面的分析判断。

SuperVIewW纳米级白光干涉三维形貌分析测量仪具有测量精度高、功能全面、操作便捷、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精密器件的过程用时2分钟以内，确保了高款率检测。

SuperViewW纳米级白光干涉三维测量仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。白光干涉仪的特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。

SuperViewW三维形貌显微白光干涉仪用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量，以3D非接触方式，测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸。具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点。