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纳米精度位移激光干涉测量仪

简要描述:SJ6000纳米精度位移激光干涉测量仪采用高速干涉信号采集、调理及细分技术,可实现高4m/s的测量速度,以及纳米级的分辨率。具有实时性测量能力,能够同时测量多个位置或参数,提高测量效率。

  • 更新时间:2024-11-12
  • 产品型号:SJ6000
  • 厂商性质:生产厂家
  • 访  问  量:157

详细介绍

品牌CHOTEST/中图仪器价格区间面议
产地类别国产应用领域化工,能源,交通,汽车,综合

中图仪器SJ6000纳米精度位移激光干涉测量仪利用激光干涉现象来实现非接触式测量,具有高精度、高分辨率、快速测量等优点。激光干涉仪具有实时性测量能力,能够同时测量多个位置或参数,提高测量效率。它集光、机、电、计算机等技术于一体,采用高速干涉信号采集、调理及细分技术,可实现高4m/s的测量速度,以及纳米级的分辨率。

纳米精度位移激光干涉测量仪

产品配置

SJ6000激光干涉仪系统具有丰富的模块化组件,可根据具体测量需求而选择不同的组件。主要镜组如下图所列,依次为线性镜组、角度镜组、直线度镜组、垂直度镜组、平面度镜组、自动精密转台。

纳米精度位移激光干涉测量仪

主要镜组图

其中,线性镜组为标配,由线性干涉镜、线性反射镜和夹紧孔座构成。可满足线性位移设备的定位精度、重复定位精度、反向间隙的测量与分析,以及反向间隙修正和螺距补偿。


线性测量应用

SJ6000激光干涉仪广泛应用于机床、三坐标、机器人、3D打印设备、自动化设备、线性位移平台、精密机械设备、精密检测仪器等领域的线性测量。

纳米精度位移激光干涉测量仪


动态测量

在SJ6000激光干涉仪动态测量软件配合下,还可实现线性位移、角度和直线度的动态测量与性能检测,以及进行位移、速度、加速度、振幅与频率的动态分析,如振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等。

动态测量应用:

动态测量包括基于时间的动态测量和基于距离的动态测量,SJ6000动态测量软件可对动态测量数据进行位移分析、速度分析、加速度分析、振幅与频率分析等。

1.基于时间的动态测量

机器运动控制性能评价:

运动控制器PID控制参数测试与设置

高速运动后机器的稳定性测试与评价

高性能运动控制器的微小步幅的测试

振动监视

扫描应用:用于定位精度不重要,但恒速对实现高质量成像非常关键的场合

机床应用:典型应用包括要求刀具慢速、平稳轮廓运动的高质量表面精加工

振动频率分析

被测对象的振动频率分析

FFT快速傅立叶变换分析

2.基于距离的动态测量

基于距离的动态测量,SJ6000激光干涉仪系统将沿着轴线“飞行"测量,即运动轴在不停顿的情况下以用户定的间隔进行数据采集。

3.提供脉冲触发方式采集

CT70正交触发盒可监控光栅、编码器、控制器等信号,配合SJ6000激光干涉仪,可实现脉冲触发启动采集和连续脉冲触发采集。适用于运动轴在不停顿的情况下,触发激光干涉仪按照定的间隔位置进行数据采集。


产品功能

(1)可实现线性、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度、回转轴等几何参量的高精密测量;

(2)可检测数控机床、三坐标测量机等精密运动设备其导轨的线性定位精度、重复定位精度等,以及导轨的俯仰角、扭摆角、直线度、垂直度等;

(3)可实现对机床回转轴的测量与校准;

(4)可根据用户设定的补偿方式自动生成误差补偿表,为设备误差修正提供依据;

(5)具有动态测量与分析功能,包括位移分析、速度分析、加速度分析、振幅和频率分析等,可进行振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等;

(6)支持手动或自动进行环境补偿。


SJ6000纳米精度位移激光干涉测量仪适用于各种复杂的运动系统,不仅仅局限于运动导轨,还可以检测数控机床、三坐标测量机等精密运动设备其导轨的线性定位精度、重复定位精度等,以及导轨的俯仰角、扭摆角、直线度、垂直度等。帮助企业提高设备性能,减少维护成本和停机时间,为制造业提供了一种精密的测量检测方式。

纳米精度位移激光干涉测量仪


部分技术规格

稳频精度0.05ppm
动态采集频率50 kHz
预热时间≤ 6分钟
工作温度范围(0~40)℃
存储温度范围(-20~70)℃
环境湿度(0~95)%RH
线性测量距离(0~80)m (无需远距离线性附件)
线性测量精度0.5ppm (0~40)℃
角度轴向量程(0~15)m
角度测量精度±(0.02%R+0.1+0.024M)″
平面度轴向量程(0~15)m
平面度测量精度±(0.2%R+0.02M2)μm (R为显示值,单位:μm;M为测量距离,单位:m)
直线度轴向量程短距离(0.1~4.0)m;长距离(1.0~20.0)m
直线度测量精度短距离±(0.5+0.25%R+0.15M2) μm长距离±(5.0+2.5%R+0.015M2) μm
垂直度轴向量程短距离(0.1~3.0)m;长距离(1.0~15.0)m
垂直度测量精度短距离±(2.5+0.25%R+0.8M)μm/m;长距离±(2.5+2.5%R+0.08M)μm/m
注意事项:

平面度测量配置需求:平面度镜组+角度镜组

平行度测量配置需求:依据轴向量程范围,选择相应直线度镜组即可

短垂直度测量(0.1~3.0)m配置需求:短直线度镜组+垂直度镜组

长垂直度测量(1.0~20.0)m配置需求:长直线度镜组+垂直度镜组

直线度附件:主要应用于Z轴的直线度测量和垂直度测量

恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。

如有疑问或需要更多详细信息,请随时联系中图仪器咨询。

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