产品简介
中图仪器SuperView W系列0.1nm形貌重复性白光干涉仪一键完成单/多区域自动测量、批量分析,编程测量功能可预设流程实现一键操作,单个精细器件测量用时短,大幅提升检测 throughput。
中图仪器SuperView W系列0.1nm形貌重复性白光干涉仪:高精度3D表面测量解决方案,赋能工业检测升级。

还在为复杂表面测量难题发愁?超光滑/粗糙材质、纳米/微米级精度、批量检测效率低等问题,中图仪器SuperView W光学轮廓仪一站式解决!兼具多场景适配性、高精度测量、智能化操作三大核心优势,让工业检测更高效、更精准、更省心,成为B端企业提升质检水平的核心利器。
1. 全场景覆盖:单一扫描模式适配超光滑到粗糙、镜面到全透明/黑色材质,从纳米到微米级工件的粗糙度、平整度、微观轮廓等参数均可精准测量,无需更换设备即可满足多类产品检测需求。
2. 高精度+大范围双突破:复合型EPSI重建算法解决传统技术瓶颈,自动拼接功能支持方形、圆形等多种模式,数千张图像无缝拼接,超光滑凹面弧形扫描也能实现无重叠缝隙重建。
3. 高效自动化降本增效:一键完成单/多区域自动测量、批量分析,编程测量功能可预设流程实现一键操作,单个精细器件测量用时短,大幅提升检测 throughput。
1. 测量能力:覆盖全类型样件表面,无需切换测量模式,适配从精密器件到批量工件的多样化检测场景。
2. 自动化体验:操纵杆便捷操控所有轴位,支持阵列式多区域测量、Mark点自动定位校正,批量样品切换测量点位无需重复调试。
3. 数据处理与导出:内置去噪、滤波等四大数据处理模块,粗糙度、几何轮廓等五大分析功能,支持Word/Excel/PDF格式报表导出,满足质检存档与数据分析需求。
4. 稳定与安全保障:气浮隔振底座隔绝振动干扰,0.1nm分辨率环境噪声评价功能确保数据精准;双重镜头防撞保护、光源自动熄灯设计,降低设备损耗与操作风险。
Xtremevision Pro第二代3D测量软件平台,集成图像扫描、3D分析、影像测量、自动化测量四大模块,适配中图W/VT/WT系列所有3D仪器机型。支持白光干涉与共聚焦显微镜自动切换,可直接测量微观平面轮廓的距离、角度、半径等参数,搭配灵活自动拼接功能,自定义测量区域无限制。

广泛应用于精密制造、电子半导体、汽车零部件、新材料、医疗器械等领域,可对产品表面粗糙度、磨损/腐蚀情况、台阶高度、加工缺陷、孔隙间隙等形貌特征进行精准测量分析,为产品质量控制、工艺优化提供可靠数据支撑。

SuperView W系列0.1nm形貌重复性白光干涉仪助力企业提升质检效率、降低成本、保障产品品质。现面向全国制造企业、检测机构、科研单位开放合作,提供定制化测量解决方案与专业技术支持。

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恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。