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W1光学3d表面轮廓仪器

简要描述:W1光学3d表面轮廓仪器采用白光干涉技术,结合具有优异抗噪性能的3D重建算法,真实还原样品的每一个细节,随意翻转缩放,都能轻松观察、测量样品的任意特征。

  • 更新时间:2024-05-12
  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 访  问  量:1103

详细介绍

品牌CHOTEST/中图仪器价格区间面议
产品种类非接触式轮廓仪/粗糙度仪产地类别国产
应用领域医疗卫生,环保,能源,综合

W1光学3d表面轮廓仪器采用白光干涉技术,结合具有优异抗噪性能的3D重建算法,真实还原样品的每一个细节,随意翻转缩放,都能轻松观察、测量样品的任意特征。中图仪器提供1100单镜头手动版和1200多镜头自动版两种机型,另可针对不同的客户需求,在两种型号间选取不同配置进行组合,让仪器切合客户需求,贴心省力。

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参数

产品型号:SuperView W1系列

产品名称:光学3D表面轮廓仪

影像系统:1024×1024

光学ZOOM:0.5×,(0.75×,1×可选)

干涉物镜:10×,(2.5×,5×,20×,50×,100×可选)

XY平台:尺寸320×200mm,行程140×110mm,电动、手动同时具备,均为光栅闭环反馈

Z轴行程:100mm,电动

Z向扫描范围:10mm

Z向分辨率:0.1nm

可测样品反射率:0.05%-100%

水平调整:±5°手动

粗糙度RMS重复性:0.005nm

台阶高测量:准确度0.3%,重复性0.08% 1σ

主要特点:非接触式无损检测,一键分析、测量速度快、效率高

生产企业:深圳市中图仪器股份有限公司

注释:更多详细产品信息,请联系我们获取


W1光学3d表面轮廓仪器粗糙度、平面度、孔洞分析等3D测量功能全部囊括,距离、角度、直径测量等2D轮廓分析功能覆盖,有依据ISO|ASME|EUR|GBT四大国内外标准的300余种特征参数。重建算法自动滤除样品表面噪点,在硬件系统的配合下,分辨率可达0.1nm,广泛适用于从光滑到粗糙等各种精密器件表面的测量。


薄膜粗糙度测量.jpeg

薄膜粗糙度测量




磨损定量分析.jpeg

磨损定量分析



塑料薄片微观


应用

在3C领域,SuperView W1系列光学轮廓仪可以测量蓝宝石屏、滤光片、表壳等表面粗糙度;

在LED行业,SuperView W1系列光学轮廓仪可以测量蓝宝石、碳化硅衬底表面粗糙度;

在光纤通信行业,SuperView W1系列光学轮廓仪可以测量光纤端面缺陷和粗糙度;

在集成电路行业,SuperView W1系列光学轮廓仪可以测量硅晶片或陶瓷晶片表面粗糙度;

在EMES行业,SuperView W1系列光学轮廓仪可以测量台阶高度和表面粗糙度;

在军事领域,SuperView W1系列光学轮廓仪可以测量蓝宝石观察窗口表面粗糙度......

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