产品简介

中图仪器SuperViewW白光粗糙度轮廓仪基于白光干涉核心技术，实现粗糙度与轮廓度一体化高精度测量，以全场景适配、高效自动化优势，成为B端企业降本增效的核心检测装备。

针对传统测量设备常面临的“材质适配窄、精度不稳定、粗糙度与轮廓度需分机测量、批量检测效率低"等问题，中图仪器SuperViewW白光粗糙度轮廓仪基于白光干涉核心技术，实现粗糙度与轮廓度一体化高精度测量，以全场景适配、高效自动化优势，成为B端企业降本增效的核心检测装备。

一、产品优势

1.一体化测量，告别重复操作

无需更换设备或模块，同步完成粗糙度（Ra/RMS/Sa等）与轮廓度（台阶高度、曲率、微观几何形状等）参数检测，覆盖ISO/ASME/EUR/GBT四大标准300余种参数，满足从研发到量产的全流程质检需求，某光学企业应用后，检测流程简化60%。

2.全材质适配

突破传统设备对材质的局限，单一扫描模式轻松应对超光滑到粗糙、镜面到全透明/黑色材质，无论是半导体硅晶片、3C玻璃屏，还是汽车精密零部件、光学元件，均能精准捕捉表面形貌，无需额外适配耗材。

3.纳米级精度，数据可靠可追溯

依托白光干涉技术与复合型EPSI重建算法，粗糙度RMS重复性低至0.005nm，形貌重复性达0.1nm，轮廓度（台阶测量）准确度仅0.3%。搭配气浮隔振底座与0.1nm分辨率环境噪声评价功能，即便在车间振动环境中，连续10次测量数据偏差仍＜0.001nm，为工艺优化提供可信的量化依据。

4.自动化高效，降本增效显著

SuperViewW白光粗糙度轮廓仪支持单/多区域一键测量、阵列式批量检测，编程预设流程实现自动化操作；W1-Ultra型号在0.1nm分辨率下扫描速度达8μm/s，搭配数千张图像无缝拼接功能。

二、应用场景

1.半导体制造：适配硅晶片研磨减薄后的粗糙度检测、光刻槽道轮廓测量，助力头部企业工艺良率提升8%，检测数据通过国际标准认证，满足供应链合规要求。

2.3C电子：精准测量手机玻璃屏粗糙度、金属壳模具瑕疵、油墨屏高度差，批量检测报表支持Word/Excel/PDF格式自动导出，适配供应链质检存档需求。

3.光学加工：量化纳米台阶高度、光学元件表面轮廓，916.5nm台阶测量重复性达0.08%，帮助企业产品合格率从92%提升至99.2%。

4.汽车零部件：检测精密轴承孔隙间隙、齿轮表面磨损轮廓，在复杂车间环境中保持数据稳定，某车企质检周期缩短50%。

三、产品服务

1.交付支持：合同生效后30天内免费送货上门，专业团队现场安装调试，确保设备快速投产；

2.质保售后：验收合格后享1年质保，故障2小时内响应，72小时上门维修，质保期后提供成本价备件与终身技术支持；

3.定制化服务：可根据行业需求定制测量模板、分析参数，提供免费样品测试与行业专属解决方案设计。

如需获取产品演示视频、行业案例手册或免费样品测试，欢迎随时咨询中图仪器。

注：产品参数与配置以实际交付为准，中图仪器保留根据技术升级调整相关内容的权利，恕不另行通知。