CHOTEST中图仪器SuperViewW1三维白光干涉表面形貌仪集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。测量范围可从纳米级粗糙度到毫米级的表面形貌，可以快速获取被测工件表面三维形貌和数据进行检测，可用于成品质量的管理，确保良品合格率。

chotest国产白光干涉仪是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器，它以白光干涉技术原理，对各种精密器件表面进行纳米级测量的仪器，通过测量干涉条纹的变化来测量表面三维形貌，专用于精密零部件之重点部位表面粗糙度、微小形貌轮廓及尺寸的非接触式快速测量。

CHOTEST中图仪器SuperViewW1白光干涉三维轮廓仪通过测量干涉条纹的变化来测量表面三维形貌，是一款对各种精密器件表面进行纳米级测量的仪器，专用于精密零部件之重点部位表面粗糙度、微小形貌轮廓及尺寸的非接触式快速测量。

除主要用于测量表面形貌或测量表面轮廓外，SuperViewW1白光干涉仪品牌具有的测量晶圆翘曲度功能，非常适合晶圆，太阳能电池和玻璃面板的翘曲度测量，应变测量以及表面形貌测量。

中图白光干涉仪SuperViewW1利用光学干涉原理，能够以优于纳米级的分辨率，非接触测量样品表面形貌，广泛应用于光学，半导体，材料，精密机械等等领域，用于表面形貌纹理，微观结构分析。测量单个精细器件的过程用时2分钟以内，确保了高款率检测。白光干涉仪的特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。

中图仪器SuperViewW1白光干涉显微镜也叫光学轮廓仪、光学3D表面轮廓仪、非接触式粗糙度轮廓仪等，仪器分辨率0.1μm，重复性0.1%，可为样品表面测量提供快速，便捷的非接触式3D表面形貌测量解决方案。