SuperViewW工业表面3D检测白光干涉仪可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。

中图仪器国产电镜标配有高性能二次电子探头和多象限背散射探头、并可选配能谱仪、低真空系统，能满足用户对多类型样品的观测需求，实现微观的形貌和元素分析等。

中图仪器高分辨率sem扫描电镜品牌具有空间自由+高效精准+定制适配+可靠保障的特点，能够解决检测场地受限、操作复杂拖慢进度、振动环境下数据不准测量痛点。标配有高性能二次电子探头和多象限背散射探头、并可选配能谱仪、低真空系统，能满足用户对多类型样品的观测需求，实现微观的形貌和元素分析等。

SuperView W1系列纳米级白光干涉三维形貌仪以0.1nm级分辨率、8μm/s扫描速度、300+种标准参数，一站式解决超精密测量精度不足、多材质适配难、批量检测效率低等测量难题。应用覆盖半导体、3C电子等多行业场景，数据驱动检测，赋能精密制造升级。

中图仪器CEM3000系列材料观察分析一体化扫描电镜4nm高清+40秒快检！以“空间自由+高效精准+定制适配+可靠保障”四大核心优势，直击B端检测核心需求，让微观观测更灵活、更高效、更可靠！

中图仪器SuperView W系列0.1nm形貌重复性白光干涉仪一键完成单/多区域自动测量、批量分析，编程测量功能可预设流程实现一键操作，单个精细器件测量用时短，大幅提升检测 throughput。